MOSFET的柵極驅(qū)動(dòng)損耗
功率開(kāi)關(guān)MOSFET的柵極驅(qū)動(dòng)相關(guān)的損耗，即下圖的高邊和低邊開(kāi)關(guān)的“PGATE”所示部分。
柵極電荷損耗
柵極電荷損耗是由該例中外置MOSFET的Qg（柵極電荷總量）引起的損耗。
當(dāng)MOSFET開(kāi)關(guān)時(shí)，電源IC的柵極驅(qū)動(dòng)器向MOSFET的寄生電容充電（向柵極注入電荷）而產(chǎn)生這種損耗（參見(jiàn)下圖）。
這不僅是開(kāi)關(guān)電源，也是將MOSFET用作功率開(kāi)關(guān)的應(yīng)用中共同面臨的探討事項(xiàng)。
損耗是MOSFET的Qg乘以驅(qū)動(dòng)器電壓和開(kāi)關(guān)頻率的值。Qg請(qǐng)參考所使用的MOSFET的技術(shù)規(guī)格書。驅(qū)動(dòng)器電壓或者實(shí)測(cè)，或者參考IC的技術(shù)規(guī)格書。
從該公式可以看出，只要Qg相同，則開(kāi)關(guān)頻率越高損耗越大。
從提供MOSFET所需的VGS的角度看，驅(qū)動(dòng)器電壓不會(huì)因電路或IC而有太大差異。MOSFET的選型和開(kāi)關(guān)頻率因電路設(shè)計(jì)而異，因此，是非常重要的探討事項(xiàng)。
為了確保與其他部分之間的一致性，這里給出了開(kāi)關(guān)的波形，但沒(méi)有表示柵極電荷損耗之處。
關(guān)鍵要點(diǎn)：
1.柵極電荷損耗是由MOSFET的Qg（柵極電荷總量）引起的損耗。
2.如果MOSFET的Qg相同，則損耗主要取決于開(kāi)關(guān)頻率。
電話：18923864027（同微信）
QQ：709211280
〈烜芯微/XXW〉專業(yè)制造二極管，三極管，MOS管，橋堆等，20年，工廠直銷省20%，上萬(wàn)家電路電器生產(chǎn)企業(yè)選用，專業(yè)的工程師幫您穩(wěn)定好每一批產(chǎn)品，如果您有遇到什么需要幫助解決的,可以直接聯(lián)系下方的聯(lián)系號(hào)碼或加QQ/微信，由我們的銷售經(jīng)理給您精準(zhǔn)的報(bào)價(jià)以及產(chǎn)品介紹