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        7. SiC MOSFET短路特性,短路保護(hù)解析
          • 發(fā)布時間:2022-12-30 17:14:04
          • 來源:
          • 閱讀次數(shù):
          SiC MOSFET短路特性,短路保護(hù)解析
          SiC MOSFET的短路保護(hù)
          1.短路故障是導(dǎo)致SiC MOSFET失效的重要原因之一,盡管SiC MOSFET具有較好的導(dǎo)熱性能,但與Si器件和SiC MOSFET的短路性能相比,SiC MOSFET的短路保護(hù)在以下幾個方面更具挑戰(zhàn)性。
          (1)首先,在相同額定電流容量下,SiC MOSFET芯片面積小,電流密度高,這就導(dǎo)致SiC MOSFET短路承受能力較弱;
          (2)其次,在短路工況下,SiC MOSFET較弱的界面質(zhì)量會帶來柵極氧化層可靠性問題,由于SiC MOSFET需要更高的正向柵極偏壓,柵電場的增高會進(jìn)一步加劇短路時柵極氧化層退化問題;
          (3)為了確保SiC MOSFET可靠運行在安全工作區(qū)內(nèi),其較弱的短路承受能力就要求短路保護(hù)電路具有更快地響應(yīng)速度。然而,與Si器件相比,SiC MOSFET 的結(jié)電容更小、開關(guān)速度更高。
          SiC MOSFET獨特的正溫度系數(shù)跨導(dǎo)導(dǎo)致其開通時的dI/dt和dV/dt 隨著結(jié)溫的升高均增大。在較高的dI/dt和dV/dt 條件下,SiC MOSFET 短路保護(hù)電路的快速響應(yīng)與抗噪聲能力難以兼顧。
          2.短路故障類型
          SiC MOSFET 短路保護(hù) 電路
          由于短路回路電感較小,一類短路故障電流上升快,對器件危害大,保護(hù)難度較高。
          3.短路測試方法
          兩種常見的短路測試方法
          SiC MOSFET 短路保護(hù) 電路
          (1)基于雙脈沖測試的短路測試方法。
          該方法使用“粗短銅排”代替雙脈沖測試電路中的負(fù)載電感來模擬短路。
          SiC MOSFET 短路保護(hù) 電路
          當(dāng)脈沖發(fā)生器向驅(qū)動 器 1 發(fā)送高電平信號時,打開上橋臂 SiC MOSFET,再向驅(qū)動器 2 發(fā)送高電平信號,就可以實現(xiàn) HSF;
          當(dāng)脈沖發(fā)生器向驅(qū)動器 2 發(fā)送一個信號使待測 SiC MOSFET 正常開啟時,再向短路控制開關(guān) S 1 發(fā)送閉 合信號使故障電感 LFault 接入功率回路,就可以實現(xiàn)FUL。
          (2)基于非線性元件的無損短路測試方法。
          SiC MOSFET 短路保護(hù) 電路
          不同的 SiC MOSFET 短路測試方法如圖所示。該方法是在被測 SiC MOSFET的短路回路中串入非線性元件,如圖所示。非線性元件在額定電流時內(nèi)阻較低,與SiC MOSFET 相比飽和電流更小。
          當(dāng)脈沖發(fā)生器通過驅(qū)動器1開啟該非線性元件時,再通過驅(qū)動器2開啟待測器件就可以模擬HSF。當(dāng)短路電流達(dá)到該元件的飽和電流時,短路電流就會被 限制。當(dāng)短路電流持續(xù)增大時,該元件就會“熔斷”。
          4.短路失效模式
          目前,SiC MOSFET的短路失效模型主要有柵源級失效和熱逃逸失效;
          SiC MOSFET 短路保護(hù) 電路
          SiC MOSFET 短路保護(hù) 電路
          通過兩種失效模式的現(xiàn)象和成因不難看出,短路能量較低時可能會導(dǎo)致SiC MOSFET柵源極失效,而短路能量較高時可能會使 SiC MOSFET發(fā)生熱逃逸失效。SiC MOSFET 柵-源極失效時不一定會發(fā)生熱逃逸失效,但是熱逃逸失效發(fā)生時必定伴隨有柵-源極失效。
          5.短路保護(hù)技術(shù)
          SiC MOSFET 短路保護(hù) 電路
          6.短路關(guān)斷策略
          (1)大電阻關(guān)斷。大電阻關(guān)斷是在檢測到短路后,利用大阻值柵電阻來減緩關(guān)斷電流下降速率從 而實現(xiàn)關(guān)斷過電壓的抑制。
          然而,大電阻關(guān)斷在抑制關(guān)斷過電壓的同時也致使關(guān)斷延遲時間增大,導(dǎo)致 SiC MOSFET 不能及時關(guān)斷,為此,在關(guān)斷過程中采用不同柵極電阻關(guān)斷 SiC MOSFET 短路電流,從而兼顧了SiC MOSFET 短路關(guān)斷過電壓與關(guān)斷延遲時間,但大電阻關(guān)斷可能導(dǎo)致 SiC MOSFET因關(guān)斷損耗過大而發(fā)生失效。
          (2)降柵壓關(guān)斷。降柵壓關(guān)斷是在檢測到短路后,先緩慢降低柵極電壓,使 SiC MOSFET 維持導(dǎo)通狀態(tài)。在較低柵極電壓下,SiC MOSFET漏極電流會被限制在較低水平,經(jīng)過一定延遲后,再采用負(fù)壓關(guān)斷短路電流。該方法通過緩降柵壓抑制短路電流,從而降低短路關(guān)斷過電壓,但是該方法需要多種柵極電壓,電路結(jié)構(gòu)實現(xiàn)復(fù)雜。
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